NU AI GASIT CE CAUTAI?
Echipa noastra este aici sa te ajute! Suna-ne sau lasa-ne un mesaj si un consultant Apel Laser va fi bucuros sa raspunda intrebarilor tale si sa gaseasca solutii personalizate pentru tine.
NaioAFM este microscopul atomic de forta ideal pentru nanoeducatie si cercetare de baza asupra unor esantioane mici. Acest sistem AFM all-in-one ofera performante solide si manipulare usoara, cu un pret si o amprenta care se potrivesc oricui si oricarui loc.
Caracteristici si Beneficii:
Controller integrat, protectie impotriva fluxului de aer, izolare a vibratiilor si masa XY (12 mm).
Camera cu vedere de sus de inalta rezolutie si observare a esantionului din lateral incorporata.
Complet echipat: Toate modurile standard de operare sunt disponibile.
Schimb simplu de cantilever: nu este necesara ajustarea laserului sau a detectorului.
Nu este necesara configurarea sistemului: conectati-l doar la PC si porniti software-ul.
Specificatii tehnice:
Raza maxima de scanare / inaltimea scanarii (rezolutie): (1) 70 µm (1.0 nm) / 14 µm (0.2 nm)
Z-noise RMS static / dinamic: Tip. 0.4 nm (max. 0.8 nm) / Tip. 0.3 nm (max. 0.8 nm)
Dimensiune maxima a esantionului / inaltime: 12 mm / 3.5 mm
Gama maxima de pozitionare a etapei de esantion: 12 mm de deplasare in X si Y
Abordare: Motor liniar de 4 mm, abordare continua sau pas cu pas
Sistem de operare si cerinte PC: Windows 7 sau mai recent (32/64-bit), rezolutie ecran 1280×1024 px, CPU Core 2, 4 GB RAM, 1 port USB 2.0 liber
Dimensiune / greutate / alimentare: 204×204×160 mm / 6.5 kg / 100–240 VAC (30 W)
Alimentare: 100–240 VAC, 50/60 Hz, 50 W
Producator | |
---|---|
Aplicatii / industrii | , , , , , , |