Analizor GD-Profiler 2 ™ | Horiba

Dotat cu o sursa RF care poate functiona in modul pulsat pentru probe fragile, gama de aplicatii GD-Profiler 2 ™ trece de la studii de coroziune la controlul procesului de acoperire PVD, de la dezvoltarea PV a filmului subtire pana la controlul calitatii LED si este utilizat in Universitati, precum si in laboratoarele de cercetare industriala.
Generatorul RF este standard de clasa E si optimizat pentru stabilitate, care permite analiza reala a suprafetei.
Sursa poate fi pulsata cu achizitie sincronizata pentru rezultate optime pe probe fragile. Utilizarea unei surse RF permite analiza straturilor si materialelor conventionale si neconventionale.
Optica simultana ofera o acoperire spectrala completa de la 110 la 800 nm, incluzand accesul UV profund pentru a analiza H, O, C, N si Cl.
Retele holografice originale, gravate cu ioni asigura un randament si o rezolutie de lumina cat mai ridicate pentru eficienta si sensibilitate la lumina maxima.
Detectarea HDD patentata ofera viteza si sensibilitate in detectie fara compromisuri.
Software QUANTUM ™ cu instrument de scriere a raportului.
Indicatorul laser CenterLite (in curs de brevet) pentru incarcarea precisa a esantionului.
Domeniile tipice ale aplicatiilor includ PV, metalurgie, fabricatie cu LED, studii de coroziune, organice si microelectronice, cercetare si dezvoltare a materialelor, optimizare procese de depunere, PVD, CVD, acoperiri cu plasma, automobile, baterii Li, etc.
Nu este necesar UHV.
Masurarea tuturor elementelor de interes (inclusiv H, D, O, Li, Na, C, N etc) cu detectoare de inalta dinamica brevetate.
Monocromator optional cu modul Imagine si detectare dinamica ridicata pentru inregistrarea spectrului complet si flexibilitate totala.
Sursa RF pulsata pentru functionare in moduri RF si RF pulsate cu potrivire automata.
Pompa dubla diferentiala a sursei pentru prepararea probelor SEM brevetate.
Functia de curatare a plasmei incorporata.
Brevet UFS pentru pulverizare ultra-rapida a materialelor polimerice si organice.
DIP patentat – incorporat in interferometru pentru masurarea directa a adancimii liniei.
Diferite diametre de anod si accesorii pentru probe de forme ciudate.
Software Windows 10 – mai multe copii furnizate pentru instalatii la distanta.