Caracteristici cheie:
Operatie de analiza simpla, fara o pregatire necesara si analiza nedistructiva.
Punctele de masurare pot fi accesate rapid prin observarea optica de inalta precizie, chiar si in intervalul microscopic.
Completati cu o varietate de software de analiza a imaginilor.
Timpul scurt de analiza faciliteaza munca eficienta de masurare.
Imaginile cu raze X cu zgomot foarte mic permit o observare si mai clara.
Instrument: Microscopul analitic cu fluorescenta cu raze X;
Tip probe: Solid, Lichid, Particule;
Elemente detectabile: F－Am;
Dimensiuni camera: 450(W) x 500(D) x 80(H) ;
Dimensiuni maxime de proba: 300(W) x 250(D) x 80(H) ;
Greutate maxima de proba :1 kg;
Observatii optice: Doua camere de inalta rezolutie cu obiectiv obiectiv;
Design optic: Radiografie verticala-coaxiala si observatie optica;
Iluminarea / observarea esantionului: Lumini de sus, de jos, laterale / Campuri luminoase si intunecate;
Putere: 50 W;
Voltaj; Up to 50 kV;
Curent: Up to 1 mA;
Material tinta: Rh;
Optica raze: x;
Numar de porbe: Pana la 4;
Filtre primare cu raze X pentru optimizarea spectrului: 5 pozitii;
