Profilometrele optice NewView 9000 | Zygo

Nucleul central al sistemului, tehnologia ZYGO de Interferometrie cu Scanare Coerenta asigura determinari sub-nanometrice pentru toate magnificarile si masoara o gama mai larga de suprafete cu o precizie mai mare si mai rapid decat orice alt sistem disponibil comercial. Sistemul optic de masura 3D NewView™ 9000 de la ZIGO este echipat cu un senzor de mare suprafata de 1,9 MP, care ofera o sensibilitate ridicata, permitand obtinerea unei imagini mai largi intr-o singura masuratoare.
Masuratorile de mare viteza se realizeaza in doar cateva secunde, ceea ce duce la o crestere a productivitatii si a controlului procesului.
Configurarea automata a focalizarii si a setarilor reduce variabilitatea operatorului si timpul necesar pentru obtinerea datelor.
Performanta adecvata pentru masuratori de precizie, asigurand repetabilitate si precizie exceptionale pentru aplicatiile de productie cu cele mai exigente cerinte.
Tehnologie robusta la vibratii cu tehnologia SureScan si izolare incorporata, asigurand metrologie de inalta calitate chiar si in medii predispuse la vibratii.
Tehnologia SmartPSI™ permite profilarea ultra-rapida a suprafetelor ultra-netede.
Corelarea 2D si 3D ofera incredere in masuratorile realizate, cu rezultate conforme cu standardele ISO 25178 si ISO 4287.
Software-ul Mx™ permite controlul instrumentului, analiza si automatizarea masuratorilor.
Sistemul optic de masura 3D NewView™ 9000 este utilizat intr-o varietate de industrii si aplicatii, inclusiv productie, controlul calitatii, cercetare stiintifica si multe altele. Cu performanta sa superioara si caracteristicile avansate, acest sistem optic ofera masuratori precise, rapide si fiabile pentru caracterizarea profilurilor de suprafata.
Tehnica masurare:
Scanare Interferometrica coerenta 3D,
Tehnologie SureScan™ si Interferometrie cu schimbare de faza
Domeniu scanare vertical:
150 μm cu drive Piezo de inalta precizie;
20 mm cu platforma Z de scanare extinsa.
Repetabilitate topografie suprafata: 0.08 nm.
Repetabilitate RMS: 0.008 nm.
Rezolutie optica laterala: 0.34 microni (obiectiv 100x).
Esantionare spatiala: 0.04 microni (obiectiv 100x).
Repetabilitate pas inaltime: 0.3%.